符合標準：GB/T 15822.2-2005/ISO 9934-2：2002 在表面粗糙的工件表面上進行磁粉探傷時，由于工件表面不平或由于工件表面顏色與磁痕顯示對比度很低時，會使缺陷難以辨認出，造成漏檢，探傷前在工件表面施加一層反差增強劑，可以明顯提高缺陷磁痕與工件表面底色的對比度，提高缺陷檢出能力。

符合標準：GB/T 15822.2-2005/ISO 9934-2：2002 在表面粗糙的工件表面上進行磁粉探傷時，由于工件表面不平或由于工件表面顏色與磁痕顯示對比度很低時，會使缺陷難以辨認出，造成漏檢，探傷前在工件表面施加一層反差增強劑，可以明顯提高缺陷磁痕與工件表面底色的對比度，提高缺陷檢出能力。

符合標準：GB/T 15822.2-2005/ISO 9934-2：2002 在表面粗糙的工件表面上進行磁粉探傷時，由于工件表面不平或由于工件表面顏色與磁痕顯示對比度很低時，會使缺陷難以辨認出，造成漏檢，探傷前在工件表面施加一層反差增強劑，可以明顯提高缺陷磁痕與工件表面底色的對比度，提高缺陷檢出能力。

符合標準：GB/T 15822.2-2005/ISO 9934-2：2002 在表面粗糙的工件表面上進行磁粉探傷時，由于工件表面不平或由于工件表面顏色與磁痕顯示對比度很低時，會使缺陷難以辨認出，造成漏檢，探傷前在工件表面施加一層反差增強劑，可以明顯提高缺陷磁痕與工件表面底色的對比度，提高缺陷檢出能力。

符合標準：GB/T 15822.2-2005/ISO 9934-2：2002 在表面粗糙的工件表面上進行磁粉探傷時，由于工件表面不平或由于工件表面顏色與磁痕顯示對比度很低時，會使缺陷難以辨認出，造成漏檢，探傷前在工件表面施加一層反差增強劑，可以明顯提高缺陷磁痕與工件表面底色的對比度，提高缺陷檢出能力。